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上海交通大學 化學化工學院測試中心【儀器設備信息卡】

中文名稱

透射式電子顯微鏡

英文名稱

Transmission Electron Microscope

型號

JEM-2100

生產商

JEOL Ltd., Japan

技術規格

最大加速電壓: 200 kV
點分辯率: 0.23 nm
線分辯率: 0.14 nm
放大倍數: 50X - 1,500,000X

附件

EDS, STEM

主要用途

各種材料的顯微形貌分析、電子衍射分析、元素組成及其在材料中的線分布和面分布。

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